نتایج جستجو برای: لایه مدیا
تعداد نتایج: 21776 فیلتر نتایج به سال:
آنالیز لایه های حفاظتی (lopa) یک ابزار تحلیلی قوی است و برای ارزیابی لایه های حفاظتی مناسب استفاده شده جهت کاهش ریسک فرایند می باشد. lopa بر پایه روش های آنالیز مخاطرات فرایند متداول ساخته شده و از مقیاس های نیمه کمی برای ارزیابی فراوانی حوادث بالقوه و احتمال خرابی لایه های حفاظتی بهره می برد. در این پروژه روش lopa مورد مطالعه قرار می گیرد و لایه های حفاظتی تجهیزات واحد شیرین سازی گاز پارس جنوب...
مبانی تئوری، حل تحلیلی و نیز شیوه آنالیز با استفاده از الگوریتم روش اجزا محدود برای تئوری لایه به لایه (layerwise theory) در آنالیز ورق های ارتوتروپیک چند لایه ای تحت خمش معرفی می شود. این تئوری که معمولا تعداد درجات آزادی زیادی را طلب می کند، دارای دقت فوق العاده ای می باشد. در مدلسازی با این شیوه که میدان تغییر مکان جداگانه ای برای هر لایه در نظر گرفته می شود دو نوع شبکه بندی وجود دارد. یکی ش...
در این تحقیق لایه های نازک نیمرسانای اکسید قلع به روش بخار شیمیایی بر روی بسترهای شیشه ای تهیه شده است. سپس اثر شار اکسیژن و زمان لایه نشانی بر روی خواص ساختاری، الکتریکی و اپتیکی لایه های نازک مورد مطالعه قرار گرفته است.لایه های تهیه شده توسط پراش پرتو ایکس (xrd)، میکروسکوپ الکترونی روبشیاثر میدان (fesem)و جذب نوری (uv-vis)مشخصه یابی شده اند. لایه ها دارای خواص بس بلور و یکنواخت با جهت گیری...
روش خودتجمعی لایه به لایه، در حوزه فناوری نانو، از روش های جدیدی است که برای اصلاح خواص سطح مواد جامد استفاده می شود. در این مقاله تاثیر اصلاح سطح خارجی الیاف لینتر پنبه با جذب متناوب لایه هایپلی الکترولیت کاتیونی و آنیونی (کایتوزان/ نانوالیاف سلولزی) بررسی گردید.جذب مواد بر سطح الیاف سلولزی از طریق تیتراسیون الکترولیت تحلیل شد.قابلیت پیوند پذیری الیاف با تشکیل لایه های پلیمری در سطح الیاف، بهب...
لایه های نانوساختار 2 sno -2 tio به روش باریکه الکترونی روی زیرلایه هایی از جنس شیشه و آلومینیوم/شیشه لایه نشانی شدند. خلأ موردنیاز در فرآیند لایه نشانی 5 - 10 × 5 / 1 تور در نظرگرفته شد، سپس لایه ها تحت عملیات بازپخت در دماهای 450 ، 500 و 550 درجه سانتی گراد قرار گرفتند. ساختار بلوری و مورفولوژی لایه ها توسط آنالیزهای xrd و sem بررسی گردید. خواص الکتریکی ( i-v ) و اپتیکی لایه ها نیز توسط سیستم...
بر اساس روش متعارف تداخل نوری، با اندازه گیری میزان جابه جایی فریزهای تداخلی، ضخامت لایه نازک به دست می آید. جهت افزایش دقت در سنجش ضخامت های کم و کاهش خطاهای اندازه گیری، نمودار شدت فریزها قبل و بعد از فرآیند ایجاد پله، رسم می شود. با اندازه گیری میزان جابه جایی فریزهای تداخلی، امکان اندازه گیری ضخامت لایه های نازک از مرتبه چند نانومتر فراهم می شود. همچنین با بهره گیری از جابه جایی نمودار شدت ...
چکیده سازههای چند لایه به طور گسترده با هدف ایجاد ساختاری مقاوم در برابر بارگذاری دینامیک مورد استفاده قرار گرفتهاند. رفتار سازههای چند لایه در نرخ کرنش بالا و تاثیر آنها بر میرایی موج شوک و خیز لایه هدف مواردی هستند که در این مقاله مورد بررسی قرار گرفتهاند. اثر ضخامت لایههای سرامیکی، آلومینیومی و فولادی بر خیز لایه هدف، به صورت عددی، مورد تحقیق قرار گرفته و مدل ریاضی برای خیز لایه هدف ...
به منظور مطالعه ریزبینی مراحل تشکیل سم در گوسفند تعداد 16 جنین سالم گوسفند با سنین مختلف بلافاصله پس از ذبح مادرانشان در کشتارگاه جمع آوری گردید.سپس برشی سهمی میانی به هر یک از انجام روشهای داده شده و نمونه ها ی بلافاصله در بافر فرمالین 10 درصد قرار داده شد.پس از انجام روشهای معمول آزمایشگاهی مقاطع پارافینی به ضخامت 6 میکرون تهیه و با هماتوکسیلین-ائوزین رنگ آمیزی وبا میکروسکوپ نوری مورد مطالعه ...
در این تحقیق هدف، بررسی اثر درجه رقت و لایه واسط بر مقاومت به سایش لایه روکش سخت پایه Fe-Cr-C جوشکاری شده به روش SMAW بر روی فولاد ساده کربنی St37 می باشد، به همین منظور شش قطعه فولاد ساده کربنی St37 در ابعاد10×200×300 میلی متر به عنوان فلز پایه انتخاب و عملیات روکش کاری روی سه نمونه بدون لایه واسط و روی سه نمونه با لایه واسط انجام شد. بعد از انجام عملیات جوشکاری، آزمون سختی و سایش روی نمونهها...
در این کار ضمن ارایه یک مدل ریاضی برای محاسبه مقاومت ویژه لایه های نازک, تغییرات مقاومت الکتریکی ویژه بر حسب ضخامت برای تک لایه ایهای نازک ni و چند لایه ایهای نازک ni/cu مورد مطالعه قرار گرفت. لایه ها به روش الکتروانباشت از یک محلول الکترولیت شامل یونهای ni و cu رشد یافتند. ضخامت لایه ها از 200 تا 2000نانومتر تغییر داده شد. نقش پراش پرتوایکس (xrd) تعدادی از لایه های نازک ni/cu بیانگر ساختار چند...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید