میلاد فردی

[ 1 ] - سنتز ذرات میان‌متخلخل جدید سیلیکای SPB1 و SPB1,2 و بررسی ریزساختار و خواص فیزیکی آنها

نانوساختارهای جدید سیلیکا به نام ذرات SPB (ذرات سیلیکونی تهیه شده به روش سل-ژل و با استفاده از قالب کوپلیمرهای سه قطعه‌ای) با موفقیت در سامانه آب- نرمال اکتان (کمکحلال)، در محیطی اسیدی ساخته شدند. از تترا اتوکسی سیلان (TEOS) به‌عنوان منبع سیلیکا، اتانول به‌عنوان کمک عامل سطح فعال و مخلوط دو کوپلیمر PPG-b-PEG-b-PPG و PEG-b-PPG-b-PEG (پلورونیک) به‌عنوان قالب، استفاده شد. ذرات جدید سیلیکای می...

[ 2 ] - استفاده از سیکلوهگزانول به عنوان کمک‌عامل سطح‌فعال در ساخت ذرات جدید میان‌متخلخل سیلیکا

در ساخت ذرات میان متخلخل سیلیکا، هندسه، اندازه حفره‌ها، حجم ویژه و خواص سطحی ذرات می‌توانند به وسیله انتخاب روش و محیط ساخت، نوع قالب، کمک‌حلال و کمک‌عامل سطح فعال، بسیار تحت تاثیر قرار گیرند. در این پژوهش، ذرات جدید SPB (ذرات میانی متخلخل سیلیکا، به روش سل- ژل و با استفاده از کوپلیمرهای سه قطعه‌ای به عنوان قالب) از مخلوط دو کوپلیمر، پلی‌پروپیلن گلیکول- قطعه – پلی‌اتیلن گلیکول- قطعه- پلی‌پروپ...

[ 3 ] - Scanning impedance microscopy (SIM): A novel approach for AC transport imaging

Scanning Impedance Microscopy (SIM) is one of the novel scanning probe microscopy (SPM) techniques, which has been developed to taking image from sample surface, providing quantitative information with high lateral resolution on the interface capacitance, and investigating the local capacitance–voltage (C–V) behavior of the interface and AC transport properties. The SIM is an ordinary AFM equip...

[ 4 ] - Scanning impedance microscopy (SIM): A novel approach for AC transport imaging

Scanning Impedance Microscopy (SIM) is one of the novel scanning probe microscopy (SPM) techniques, which has been developed to taking image from sample surface, providing quantitative information with high lateral resolution on the interface capacitance, and investigating the local capacitance–voltage (C–V) behavior of the interface and AC transport properties. The SIM is an ordinary AFM equip...