تاثیر زمان لایه نشانی بر کیفیت سطح و هدایت الکتریکی پوشش های کامپوزیتی کربن- نیکل

تاثیر زمان لایه نشانی بر کیفیت سطح و هدایت الکتریکی پوشش های کامپوزیتی کربن- نیکل

در این کار ابعاد برخالی(فرکتالی) و هدایت الکتریکی لایه­های کربن– نیکل در زمان­های لایه­نشانی 50 تا 600 ثانیه اندازه  گیری شدند. به علت وجود مولفه­های برخالی در توپوگرافی­های سطح، چگالی طیفی توان(psd) تمام لایه­ها در محدوده فرکانس­های بالا تغییراتی به صورت عکس قانون توانی نشان می­دهند. ابعاد برخالی و توپوگرافی لایه­های کربن ­- نیکل از 50 تا 180 ثانیه افزایش یافته­اند، با این حال در 600 ثانیه، ای...

تأثیر زمان لایه نشانی بر خواص ساختاری و فیزیکی پوشش های کربنی لایه نشانی شده با روش کندوپاش مگنترونی

پوشش دهی پارچه‌های پلی استر و کربن با نیکل-فسفر به روش لایه نشانی الکترولس و بررسی ویژگی آن ها

در این پژوهش پس از پوشش دهی پارچه‌های پلی استر و کربن با لایه ای از نیکل-فسفر به روش الکترولس، ویژگی آن ها مورد بررسی قرار گرفت. مقاومت سطحی، ریخت شناسی، ضخامت پوشش، ترکیب شیمیایی پوشش و پایداری در برابر عوامل محیطی (شستشو و تابش فرابنفش) پارچه ها ارزیابی شد. با انجام پوشش دهی مقاومت سطحی پارچه پلی استر به cm2/Ω 20 و مقاومت سطحی پارچه کربن به cm2/Ω 9/1 کاهش یافت. ریخت شناسی و ضخامت پوشش الیاف ب...

تأثیر زمان لایه نشانی بر خواص ساختاری و فیزیکی پوشش های کربنی لایه نشانی شده با روش کندوپاش مگنترونی

بررسی تأثیر تیمار لایه نشانی در سطوح مختلف هدایت الکتریکی بر ویژگی های کاغذ

خصوصیات سطحی الیاف سلولزی با تکنیک لایه نشانی اصلاح می شود. عوامل مختلفی بر کارایی این تکنیک مؤثرند. ویژگی های سوسپانسیون الیاف مانند میزان هدایت الکتریکی از این عوامل اند که بر نتایج فرایند لایه نشانی اثر می گذارند. در این تحقیق، خمیرکاغذ تهیه شده از الیاف بازیافتی با تکنیک لایه نشانی با پلیمرهای طبیعی نشاستة کاتیونی و آنیونی در سطوح مختلف هدایت الکتریکی لایه نشانی شدند و کاغذهای دست ساز با وز...

تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار، هدایت الکتریکی و نفوذپذیری اکسیژن لایه های نازک Ba0/5Sr0/5Co0/8Fe0/2O3-δ ساخته شده با لایه نشانی لیزر پالسی

 In this paper, Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ (BSCF) thin films were deposited on single crystal SrTiO3 (STO) (100) by pulsed laser deposition (PLD) technique at different pressures of oxygen. Crystal structure of bulk and thin film samples was studied by x-ray diffraction (XRD). The XRD results indicate that both bulk and thin film samples have cubic structures. AFM micrographs showed an increase i...