بررسی تأثیر تابش لیزر بر خواص الکتریکی و ساختاری لایههای نازک ZnO
نویسندگان
چکیده مقاله:
In this paper, ZnO thin film was prepared by sol-gel process on glass substrates. The deposited films were dried at 100 and 240 ˚C and then annealed at 300, 400 and 500 ˚C. The two-probe measurement showed that resistance of as-prepared films is very high. The KrF excimer (λ=248 nm) laser irradiation with 1000 pulses, frequency of 1 Hz and 90 mJ/cm2 energy on surface of film resulted in the reduction of the films electrical resistance. X-ray diffraction (XRD) patterns confirmed the improved hexagonal wurtzite structure of film, and AFM and FE-SEM analyses showed regular and spherical grain was formed on the surface. The particle size was increased from ~10 to ~30 nm after leaser irradiation. Generally, it was showed that electrical, structural and morphological properties of films improve considerably by laser irradiation.
منابع مشابه
بررسی تأثیر تابش لیزر بر خواص الکتریکی و ساختاری لایه های نازک zno
در این مقاله لایه نازک zno به روش سل ژل بر روی زیرلایه شیشه ساخته شده است. لایه های اولیه ابتدا در دمای 100 و ˚c 240 خشک و سپس در دماهای 300 ، 400 و ˚c 500 پخت شده اند. اندازه گیری مقاومت دو نقطه ای نشان می دهد که مقاومت الکتریکی لایه های آماده شده، بسیار زیاد است. تابش پرتو لیزر اگزایمر krf ( 248nm = λ ) با تعداد پالس 1000 ، فرکانس 1hz و انرژی 90mj/cm2 بر سطح لایه باعث کاهش مقاومت ...
متن کاملخواص الکتریکی وساختاری فیلم نازک احیاشده توسط لیزر اگزایمر تپی
فیلم نازک احیاء شده اکسید تیتانیم
متن کاملبررسی اثر فوتورسانش با لیزر اگزایمر و تحولات ساختاری، اپتیکی و شیمیایی در لایههای نازک ZnO
در این پژوهش لایههای نازک اکسید روی آلائیده با آلومینیوم به غلظتهای 0، 3، 6 و 12 درصد مولی آلومینیوم به روش سل ژل بر روی زیرلایه شیشه ساخته شد. لایههای آماده شده در دماهای °C500-300 به مدت یک ساعت در هوا پخت شدند. پراش پرتو ایکس (XRD) ساختار بلوری ورتسایت هگزاگونال برای لایههای بازپخت شده در دمای بالاتر از °C 400 نشان داد. سپس لایهها تحت تابش پرتو لیزر (nm 248 = λ، KrF) قرار گرفتند. تحول س...
متن کاملبررسی اثر ضخامت لایههای نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن
در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM ) اندازهگیری شده اند. تصاویر AFM و SEM لایهها نشان میدهند که در روند رشد و زبری لایهها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با ...
متن کاملتاثیر آلایش fe و co بر خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک zno
لایههای نازکzn0.97tm0.03o (tm = co, fe) روی زیر لایههای شیشهای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایههای zno مورد بررسی قرار گرفت. طیفهای حاصل از پراش پرتو x از نمونهها نشان داد که تمام لایهها دارای ساختار ورتسایت میباشند. طیف تراگسیل نوری در بازه طول موجی 200-800 نانو متر برای نمونهها ثبت گردید و با استفاده از آن گاف نواری لایهها مح...
متن کاملرشد و بررسی خواص ساختاری و الکتریکی لایههای نازک Pb الکتروانباشت شده بر روی زیرلایههای Au و Cu
در این تحقیق لایههای نازک Pb با ضخامتهای مختلف به روش الکتروانباشت تک حمام و با استفاده از سه الکترود بر روی زیرلایههای مس و طلا تهیه شدند. برای به دست آوردن ولتاژ مناسب انباشت از مطالعه ولتامتر چرخهای استفاده شد. ضخامت لایههای انباشت شده با استفاده از دستگاه Dektak3 اندازهگیری شد. نانوساختار این لایهها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی و الگوی پراش اشعه ایکس مورد مطالعه قرار گرفت. ...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
عنوان ژورنال
دوره 12 شماره 4
صفحات 323- 330
تاریخ انتشار 2013-03
با دنبال کردن یک ژورنال هنگامی که شماره جدید این ژورنال منتشر می شود به شما از طریق ایمیل اطلاع داده می شود.
کلمات کلیدی برای این مقاله ارائه نشده است
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023