در این پایان نامه، خصوصیات اپتیکی فیلم های نازک اکسید وانادیم مورد مطالعه قرار گرفته اند. برای تعیین ثابت های اپتیکی مانند ضریب شکست، ضریب خاموشی و همچنین ضخامت فیلم ها با استفاده از مدل دو نوسانگری لورنتز طیفهای بازتاب و تراگسیل اندازه گیری شده، از طریق الگوریتم لونبرگ-مارکوارت که یک روش بهینه سازی غیر خطی کمترین مربعات است شبیه سازی شدند. به علاوه، اثر آلایش تنگستن روی خصوصیات اپتیکی فیلم ها مطالعه شد. تاثیر افزایش دمای بازپخت روی خواص اپتیکی فیلم ها از جمله ضریب شکست، ضریب خاموشی، گاف نواری، کسر پکیدگی، رسانندگی و ضخامت فیلم ها بررسی شده است.

پنتا اکسید وانادیم یک نیمرسانای نوع n است که تراز 3d آن در حال پر شدن است. این اکسید فلزی به شکل فیلم نازک کاربردهای وسیعی در پنجره های هوشمند و کلیدهای اپتیکی دارد. بنابراین، تعیین پارامترهای اپتیکی فیلم نازک v2o5 (شامل ضریب شکست و خاموشی) برای طراحی ابزارهای اپتوالکترونیک و پوششهای اپتیکی به صورت فیلم های اپتیکی نازک چند لایه و فیلترها ضروری است.تا کنون روشها و مدلهای مختلف فیزیکی برای محاسبه ضریب شکست و خاموشی به وسیله محققان ارائه شده است. یکی از روشهای متداول برای تعیین ثابتهای اپتیکی برازش طیف تجربی بر مبنای مدلهای اپتیکی به وسیله الگوریتم بهینه سازی است. از آنجا که الگوریتم لونبرگ- مارکورارت یک تکنیک استاندارد برای حل مسائل معکوس غیرخطی است و همگرایی سریعتری را فراهم می¬کند در این مطالعه به کار برده شده است. تابع دی الکتریک پارامتری داده های تجربی را با محاسبه ضخامت و ثابتهای اپتیکی فیلم های پنتااکسید وانادیم آلاییده شده با سریم در فرآیند کمینه سازی تخمین می زند. این فیلم ها با روش سل-ژل تهیه شده و بر بستر شیشه نهشته شده اند. ثابتهای اپتیکی با استفاده از پارامترهای مدل درود-لورنتز با بازیابی تک طیف بازتاب تخمین زده شدند. علاوه بر ثابت های اپتیکی و ضخامت، گاف نواری اپتیکی، رسانندگی و تابع اتلاف سطحی و حجمی از پارامترهای تابع دی الکتریک حجمی و سطحی تعیین شدند.

چکیده ندارد.