اگر باریکه موازی شده فوتون های گامای 662 kev گسیل شده از چشمه (_^137)cs به یک ورقه تابانده شود، می توان با اندازه گیری شدت و توزیع زاویه ای فوتون های پراکندگی کامپتون به ساختار تشکیل دهنده قطعه پی برد. یکی از روش های مهم در انجام تست های غیر مخرب (ndt)، استفاده از توموگرافی کامپیوتری است. اطلاعات بدست آمده در خصوص اثر دانسیته الکترونی مواد روی پراکندگی کامپتون گاما، توموگرافی کامپیوتری (ct) قطعات صنعتی را امکان پذیر می سازد. قدرت چشمه، ضخامت حفاظ سربی، فاصله چشمه و آشکارساز از نمونه و زاویه نسبی بین آشکارساز و موازی ساز چشمه از عوامل موثر بر طیف بدست آمده می باشند. در این پایان نامه، حالت بهینه این شرایط را با استفاده از کد شبیه سازی mcnp4c بدست آورده ایم. اثرات وجود هر گونه غیر یکنواختی یک قطعه پلی اتیلنی شامل دو حفره را، از بررسی پس پراکندگی کامپتون فوتونهای گاما شبیه سازی نموده ایم. سپس نمونه هایی از مس، آهن، تیتانیوم، آلومینیوم، شیشه، گرافیت و پلی اتیلن با ترکیب و ابعاد معلوم را تحت زاویه پراکندگی 90 درجه شبیه سازی کرده و طیف تجربی هریک از قطعات را توسط آشکارساز سوسوزن nai(tl) ثبت کردیم. برای نمونه هایی با gr/cm3 ?<7.86 به علت افزایش دانسیته الکترونی، شدت فوتون های پراکنده شده نیز افزایش خواهد یافت و به ازای ? >7.86 gr/cm3 به علت افزایش عدد اتمی میزان تضعیف فوتونهای پراکنده شده افزایش یافته و در نتیجه شدت فوتونهای ثبت شده در آشکار ساز کاهش می یابد. در آزمایش دیگر به منظور نشان دادن قدرت تشخیص دو ماده با چگالی های مختلف، از یک هدف چهار لایه شامل قطعات آلومنیمی و پلی اتیلنی به صورت متناوب استفاده نمودیم . طیف تجربی بدست آمده مبنی بر قابل تمییز بودن این دو ورقه از همدیگر می باشد.