در این پایان نامه، لایه های نازک کبالت سلنید با روش رسوب گیری از حمام شیمیایی(cbd) تهیه شدند و با ضخامت های مختلف در ph های مختلف روی زیر لایه های شیشه ای قرار گرفته اند. پارامترهای ساختاری مانند گاف انرژی نانو ذرات کبالت سلنید بر اساس تغییراتph، همچنین پراش اشعه x و طیف سنجی فرابنفش- مرئی(uv/vis) مورد بررسی قرار گرفته است. مورفولوژی سطح این لایه ها بامیکروسکوپ الکترونی پویشی به دست می آید.

چکیده: در این پایان نامه، لایه های نازک pbse با استفاده از روش رسوب گیری از حمام شیمیایی (cbd) تهیه شده و روی زیر لایه شیشه ای قرار گرفته اند. مطالعات ساختاری نشان می دهد که لایه های تهیه شده دارای ساختار بلوری بوده و بیشتر به سوی صفحه (0 0 2) متمایل هستند. پارامترهای ساختاری مختلف مثل اندازه دانه (d) و ثابت شبکه (a) محاسبه شده اند. همچنین خواص نوری و ساختاری نانو ذرات pbse بر اساس تغییرات زمان رسوب گیری مورد بررسی قرار گرفته است. گاف انرژی و نوع ساختار نمونه ها توسط پراش اشعه x و طیف سنجی فرابنفش-مرئی (uv/vis) و مقدار عناصر در عمق نمونه توسط rbs مورد بررسی قرار گرفته است.

در این پایان نامه به ارائه ی یک روش جدید برای تعیین مکان، اندازه و عمق خلل و فرج در مواد می پردازیم، که این روش مبتنی بر عدم تقارن بهره ی پرتوی ایکس حاصل از پروتون فرودی به نمونه مورد نظر در دو آشکارساز همزمان پرتوی ایکس است. اکثر مواد جامد در داخل ساختار خود دارای حفره هایی می باشند که تعیین آن ها، دارای کاربرد های متعددی می باشد. از این رو روش های مختلفی جهت اندازه گیری خلل و فرج، مورد توجه قرار گرفته است که هر یک بر اساس یک خاصیت فیزیکی خاص استوار می-باشند. پرتوهای ایکس مشخصه به وجود آمده از طریق برهم کنش باریکه ی یونی با ابر الکترونی اتم های هدف، در مسیر حرکت به سمت آشکارساز به دلیل جذب در نمونه تضعیف می شوند. به دلیل وجود حفره در نمونه و وابستگی جذب پرتوی ایکس به طول مسیر طی شده در ماده، اختلاف جذبی برای پرتوی مشخصه ی ایکس در ماده داریم که حاصل آن عدم تقارن در بهره ی پرتوی ایکس به دست آمده در دو آشکارسازی است که به طورهمزمان در دو طرف باریکه ی فرودی قرار گرفته اند. روش ارائه شده به معرفی فاکتور عدم تقارن شدت پرتوی ایکس در هریک از پیکسل های توزیع عنصری می پردازد تا ماتریس عدم تقارن به دست آید. با استفاده از داده های حاصل از دو آشکارساز پرتوی ایکس و محاسبه ی عدم تقارن بهره ی پرتوی ایکس در هر یک از پیکسل های تصویر، برای عدم تقارن ماتریس تصویری به دست می آید که نشان دهنده ی ماتریس موقعیت حفره می باشد. با توجه به تشابه استفاده از دو آشکارساز پرتوی ایکس در چیدمان میکروپیکسی و تصویربرداری سه بعدی در روش استروسکوپی از روش ارائه شده با عنوان "استروپیکسی" نام برده می شود. نشان می دهیم هر چقدر شعاع حفره موجود بزرگ تر باشد عدم تقارن در بهره ی پرتوی ایکس آشکارسازها نیز بیشتر خواهد شد و در نتیجه شناسائی وجود حفره آسان تر خواهد بود. همچنین هر چقدر حفره در عمق بیشتری در داخل نمونه قرار داشته باشد عدم تقارن بهره ی پرتوی ایکس کمتر است.

روش استروپیکسی، راهکاری نوین در بازسازی ناهمواری سطوح نازک و یک روش تکمیلی در تهیه ی چگالی و توزیع عنصری نمونه می باشد. استفاده از دو آشکارساز هم زمان می تواند در محاسبه ی بهره ی عدم تقارن سطح کمک کند. توسعه ی این روش در زمینه زمین شناسی، متالوژی و صنعت می¬تواند در استحکام، حل شدگی و تجزیه پذیری مواد نقش موثری داشته باشد. نتایج نشان می دهد که با افزایش شعاع استوانه بازه ی دید به سطح تخت نزدیک می شود. می توان نتیجه گرفت که هرچقدر به سطح تخت نزدیک می شویم بازه¬ ی دیدمان افزایش می یابد. خمیدگی سطوح می تواند نقش موثری در میزان بهره و بازه ی تأثیر پذیری آن ها داشته باشد. همچنین با مقایسه ی بهره ی پرتوی ایکس در سطح تخت برای دو نمونه ی مس و کربنات کلسیم و ضریب جذب جرمی کل در دو نمونه، می توان نتیجه گرفت که ضریب جذب جرمی کل نسبت به سایر عوامل در میزان بهره ی پرتوی ایکس تأثیرگذار است.