آنالیز یونهای نقره در غلظت پایین در حضور کاتیونهای دیگر با غلظت بالا تکنیکی بسیار حساس لازم دارد. در این کار یک روش ساده و کارا برای استخراج سریم و اندازه گیری مقادیر فوق العاده جزئی یونهای نقره به وسیله دیسکهای غشایی اکتا دسیل سیلیکای اصلاح شده با تترا متیل تترا تیافولوالن ‏‎(tmttf)‎‏ و طیف سنجی جذب اتمی شعله ای شرح داده می شود. راندمان استخراج و اثر سرعت جریان ، مقدار لیگاند و حجم و غلظت و نوع حال شوینده کمپلکس نقره از دیسک و اثر کاتیونهای مزاحم بر روی درصد بازیابی نقره مطالعه شده اند. سریم و دیگر عناصر خاکهای نادر بطور گسترده ای در فرآورده های صنعتی مثل ابزار فلورسنت ، مواد مغناطیس و آلیاژها و همچنین در کاتالیز کراکینگ - گازولین ، ترکیبات پولیش ، قوسهای کربن و .... استفاده می شوند. تعیین مقادیر جزیی یونهای سریم در سیستم های آبی به علت اثراتی چون خواص سمی آن افزایش یافته است. بنابراین جداسازی و تعیین مقادیر ناچیز سریم ازنمونه های مختلف بسیار با اهمیت می باشد.کار حاضر اولین کاربرد دیسکهای ‏‎spe‎‏ اصلاح شده برای جداسازی ، تغلیظ و اندازه گیری انتخابی مقادیر فوق العاده جزیی سریم می باشد که با استفاده از دیسکهای غشایی اکتا دسیل سیلیکای اصلاح شده با 1 ، 3 ، 5 - تری تیا سیکلو هگزان ‏‎(ttch)‎‏ و اسپکتروفتومتری با آرسنازو ‏‎(iii)‎‏ انجام شده است . راندمان استخراج و اثر ماتریکس نمونه ، ‏‎ph‎‏ محلول نمونه ، انواع و حداقل مقدار اسید بازیابی کننده و سرعت جریان بررسی شده اند. ماکزیمم ظرفیت دیسک غشایی اصلاح شده با ‏‎15mg‎‏ از ‏‎ttch‎‏ ، ‏‎547mg‎‏ می باشد. حد تشخیص روش پیشنهادی ‏‎2ng/ml‎‏ است . اثر کاتیونهای مختلف بر روی بازیابی سریم مطالعه شده است. و هیچ مزاحمت جدی مشاهده نگردیده است. روش برای بازیابی سریم از نمونه های سنتزی بکار برده شده است.