بدنبال کشف "پدیده مقاومت مغناطیسی بزرگ" در اواخر سالهای 1980، مطالعه خواص مغناطیسی چند لایه ای های مغناطیسی اهمیت ویژه ای یافت و به دلیل کاربرد فراوان آنها در صنعت الکترونیک اهمیت اینگونه چند لایه ای ها دو چندان شد. بدین جهت در این کار تجربی به مطالعه خواص فیزیکی تک لایه ای آهن و سه لایه ای fe/cu/fe و مقایسه آنها، پرداخته شده است. ساختار بلوری نمونه های رشد داده شده به روش تبخیر حرارتی با استفاده از دستگاه پراش پرتو ایکس مورد مطالعه قرار گرفته و سپس با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی، afm، میزان زبری نمونه های تک لایه ای اهن و سه لایه¬ای fe/cu/fe اندازه گیری و مورد بررسی قرار گرفته است. از آنجایی که حوزه های مغناطیسی یک خاصیت مهم مواد فرومغناطیسی است بنابراین اندازه گیری و تحلیل انها از نظر فیزیکی دارای اهمیت بسیار است که در این پایان نامه این کار با استفاده از میکروسکوپ نیروی مغناطیسی،mfm ، انجام شده است. همچنین با استفاده از afm تغییرات نیروی بین سوزن میکروسکوپ و سطح نمونه بر حسب فاصله عمودی سوزن از سطح برای حالت های رفت و برگشت بطور مجزا مورد مطالعه قرارگرفته است. چگونگی رشد نمونه ها نیز با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) نشان داده شده و با استفاده از edx در صد تشکیل مواد مشخص شده است. در پایان برای بررسی خواص دقیق مغناطیسی نمونه ها از دستگاه agfm استفاده و تغییرات میدان اشباع و نیروی وادارندگی و مغناطش تک لایه اهن نسبت به سه لایه fe/cu/fe بررسی شده است