کاکویی, امیدرضا
سازمان انرژی اتمی
[ 1 ] - اندازه‌گیری هیدروژن در عمق نمونۀ سیلیکان متخلخل به روش آشکارسازی ذرات پس‌زده از برخورد کشسان
Porous silicon (PS) samples are obtained by electrochemical anodization of Si wafers in HF+DMF solution. The hydrogen complex components are formed on the inner surface walls of porous silicon. In this work the depth profile of porous silicon is estimated by measurement of hydrogen content in the depth of the sample. Since the well-known ion beam analysis simulation programs are inappropriate f...
[ 2 ] - مقایسۀ دو روش برهم‌کنش هسته‌ای و پراکندگی تشدیدی برای اندازه‌گیری نمایۀ عمقی اکسیژن در آلومینای نانو متخلخل
Depth profiling of Oxygen in the surface of materials is important for many oxide elements. In this research two methods of ion beam analysis techniques were used for depth profiling of oxygen in nanoporous anodic Alumina by Nuclear Reaction Analysis (NRA) ( 16O(d, p1)17O ,16O(d, p0)17O) and resonant elastic scattering (RES)( 16O(α, α)16O). By using simulation software, variation of oxygen conc...
[ 3 ] - تصویرگیری با استفاده از پرتو ایکس تک انرژی پروتون- القایی
این مقاله، راه‌اندازی جایگاه انجام آزمایش پرتونگاری با استفاده از پرتو ایکس تک انرژی پروتون- القایی در آزمایشگاه واندوگراف پژوهشگاه علوم و فنون هسته‌ای را گزارش میکند. باریکه‌ی پروتون پرانرژی با شدت جریان چند صد نانو آمپر ضمن عبور از روزنه‌های مناسب در مسیر باریکه با یک هدف فلزی برخورد و پرتو ایکس تک انرژی ایجاد میکند. با<...
[ 4 ] - Shielding simulations for safe use of curtain electron accelerator by MCNP4C
In an electron curtain accelerator, when the electron beam passes through the titanium exit window of the accelerator chamber, X-ray photons are produced as a negative by-product of retarding accelerated electrons. Controlling the produced X-ray photons to avoid their detrimental effects or in fact, proper shielding of the accelerator is an important issue that has to be considered in the use o...