مقایسۀ دو روش برهمکنش هستهای و پراکندگی تشدیدی برای اندازهگیری نمایۀ عمقی اکسیژن در آلومینای نانو متخلخل
Authors
Abstract:
Depth profiling of Oxygen in the surface of materials is important for many oxide elements. In this research two methods of ion beam analysis techniques were used for depth profiling of oxygen in nanoporous anodic Alumina by Nuclear Reaction Analysis (NRA) ( 16O(d, p1)17O ,16O(d, p0)17O) and resonant elastic scattering (RES)( 16O(α, α)16O). By using simulation software, variation of oxygen concentration was revealed in depth. The results show that the RES method has a good resolution but could not penetrate more than few micrometers and NRA method (d, p) analyzes oxygen in the deeper depth of sample but by lees resolution. Sharp resonance cross section outcomes more resolution in depth profiling of Oxygen in the RES method.
similar resources
مقایسۀ دو روش برهم کنش هسته ای و پراکندگی تشدیدی برای اندازهگیری نمایۀ عمقی اکسیژن در آلومینای نانو متخلخل
شناسایی و تعییین نمایۀ عمقی اکسیژن در سطح مواد، لایه های نازک و به ویژه در کاربردهای صنعتی که با طیف گسترده ای از اکسیدها استفاده می شود، بسیار ضروری است. در این بررسی، از دو روش آنالیز با باریکۀ یونی (iba)، یعنی پراکندگی الاستیک تشدیدی (res) برای اکسیژن (16o(α, α)16o) و واکنش هسته ای (16o(d, p1)17o و 16o(d, p0)17o)، برای به دست آوردن نمایۀ عمقی غلظت اکسیژن در آلومینای آندی نانوحفره استفاده شد....
full textمشخصهیابی آلومینای متخلخل آندی به روش آنالیز با باریکهی یونی
اکسیدآلومینیم متخلخل به دلیل خواص یگانهی خود، کاربرد گستردهای در فنآوری دارد. کیفیت لایهی متخلخل، ضخامت این لایه، چگالی و اندازهی خُللها، نقش تعیینکنندهای در عملکرد این مادهی پیشرفته دارند. اندازهگیری مستقیم و غیرمخرب ویژگیهای لایهی متخلخل به منظور کنترل فرایند ساخت و بهبود عملکرد آن، از چالشهای پیشروی پژوهشگران است. در این پژوهش، سعی شده است تا با استفاده از توانمندی آن...
full textمقایسۀ نتایج ارزیابی وبسایتهای دانشگاههای دولتی ایران با دو روش «وب کیو ای ام» و نمایۀ ارزیاب وب
هدف: هدف این پژوهش مقایسۀ نتایج ارزیابی وبسایتهای دانشگاههای دولتی ایران با استفاده از روشهای ارزیابی «وب کیو ای ام» و نمایۀ ارزیاب وب است. روش: روش این پژوهش ترکیبی از پیمایش توصیفی و تکنیک دلفی خواهد بود. جامعۀ آماری شامل 100 وبسایت دانشگاههای دولتی ایران است. ابزار گردآوری دادهها چکلیست بوده و برای تجزیه و تحلیل دادههای آماری از آمار توصیفی (میانگین، انحراف استاندارد) و آمار استنبا...
full textبررسی خواص پراکندگی سیلیکان متخلخل
Porous silicon (PS) layers come into existance as a result of electrochemical anodization on silicon. Although a great deal of research has been done on the formation and optical properties of this material, the exact mechanism involved is not well-understood yet. In this article, first, the optical properties of silicon and porous silicon are described. Then, previous research and the prop...
full textمقایسه پراکندگی نانو ذرات اکسید آهن مغناطیسی در دو محیط نفت و آب
در این مقاله، نانو ذرات مگنتیت(Fe3O4) به روش همرسوبی سنتز شد. برای این کار، از آمونیاک به عنوان عامل رسوبدهنده، و از کلریدهای آهن (II) و(III) به عنوان منابع آهن استفاده شد. وضعیت پراکندگی نانوذرات در دو محیط آبی و آلی (نفت) با استفاده از فعال کنندههای سطح اسید اولییک و اسید لوریک بررسی گردید و تاثیر غلظت آنها بر پراکندگی و اندازه ذرات مطالعه شد. از روشهای پراش اشعه ایکس(XRD)، پراکنش لیزری ...
full textبررسی خواص پراکندگی سیلیکان متخلخل
سیلیکان متخلخل (ps) بر اثر آندیزاسیون الکتروشیمیایی روی ویفر سیلیکان به وجود می آید. تاکنون تحقیقات فراوانی درباره چگونگی تشکیل این ماده و خواص نوری آن به ویژه فوتولومینسانس (pl) انجام شده, اما هنوز سازوکار دقیق آنها شناخته نشده است. در این مقاله ابتدا نظریه پراکندگی نور از سطوح ناهموار تصادفی و سپس انعکاس و پراکندگی, جذب و عبور نور از ps بررسی می شود و سرانجام کارهای عملی انجام شده بر روی نمون...
full textMy Resources
Journal title
volume 1 issue 4
pages 41- 46
publication date 2013-12
By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.
No Keywords
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023