جبران‌سازی مقاوم شیب خطای رادوم با تکنیک سنتز µ
author
Abstract:
This article doesn't have abstract
similar resources
طراحی کنترل کننده مقاوم برای ژنراتورهای القایی در نیروگاه های بادی سرعت متغیر با استفاده از روش سنتز μ
در این مقاله، به طراحی کنترل کننده مقاوم برای ژنراتورهای القایی در نیروگاه های بادی با استفاده از روش مقادیر تکین ساختاریافته پرداخته شده است. کنترل کننده برای statcom و کنترل زاویه متغیر شیب پره ها (زاویه پیچ پره ها) به منظور دستیابی به ولتاژ و توان مکانیکی مطلوب طراحی شده است. نتایج نشان می دهد که این کنترل کننده به طور رضایت بخشی، میرایی سیستم حلقه بسته را بهبود می بخشد. در این مطالعه، همچنی...
full textتحلیل فاصله خطای بی بعد ناشی از سیستم کنترل ناکمینه فاز در حضور اثر رادوم و اهداف با مانور
در این مقاله، اثر سیستم کنترل ناکمینه فاز در فاصله خطای یک دسته از قوانین هدایت تک بعدی شده به ازای خطای سمت اولیه و همچنین برای اهداف با مانورهای ثابت و متغیر شامل مانورهای شیب و سینوسی ارائه شده است. دینامیک سیستم هدایت و کنترل با یک تابع تبدیل مرتبه پنجم با اعمال اثر اشباع شتاب و در حضور اثر رادوم مدل شده است. به‌عبارت دقیقتر، جستجوگر و فیلتر نویز هر کدام با یک تابع تبدیل مرتبه اول و دینا...
full textتحلیل فاصله خطای ناوبری تناسبی با استفاده از معادلات بی بعدشده با اثر رادوم، اشباع شتاب و بازخورد سرعت زاویه ای بدنه
در این مقاله، معادلات خطی شده هدایت ناوبری تناسبی برای حرکت در صفحه با اعمال اثر اشباع شتاب و در حضور اثر رادوم بی بعد شده و با استفاده از آن تحلیل فاصله خطا انجام شده است. دینامیک سیستم کنترل با یک تابع تبدیل مرتبه اول مدل شده است. سپس به منظور کاهش اثر رادوم در فاصله خطا، فیدبک سرعت زاویهای بدنه به دستور شتاب افزوده شده و تحلیل خطا صورت پذیرفته است. با استفاده از روش ارائه شده، نمودارهای...
full textواکاوی خطای انسانی اپراتورهای اتاق کنترل با استفاده از تکنیک HEART در یک مجتمع پتروشیمی
Background and aims Control room is a palpitating heart of a system, and any error in operator`s duties have irreparable consequences. Nowadays, in many work places such as nuclear industry, military and chemical parts human error can cause catastrophic event that led many events around the world, so the purpose of this study is analyzing human error in a utility unit control room of a Petroche...
full textلچ استاتیک مقاوم در برابر خطای نرم با تأخیر و توان مصرفی پایین
The importance of the reliability in circuits, especially the effect of cosmic ray and the faults caused by the particles hit are becoming increasingly important as the CMOS technology progresses from sub-micrometer to nanometer scale. In this paper a static latch presented which is resistant to soft error caused by energetic particles hit to the surface of the chip and suitable for high reliab...
full textMy Resources
Journal title
volume 20 issue 2
pages 56- 66
publication date 2019-03
By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.
No Keywords
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023