تأثیر ساختار بس لایه بر ساختار و فوتولومینسانس لایه‌های نازک اکسید ژرمانیوم

Authors

  • رینرت, اروه دانشگاه نانسی و متز فرانسه
  • ورنیا, میشل دانشگاه نانسی و متز فرانسه
Abstract:

  Amorphous GeOx/SiO2 multilayers (1<x<2) were prepared by successive evaporation of GeO2 and SiO2 powders onto the Si substrates maintained at 100°C. Structural study by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Fourier transform infrared-absorption (FTIR) spectrometry, and transmission electron microscopy (TEM) was carried out. These techniques allowed us to follow the structural evolution, and phase decomposition due to annealing in the GeOx thin films and the multilayers annealed up to 900°C, and appearance of amorphous and crystallized germanium aggregates. For Ta≥ 400°C, the photoluminescence band around 1eV attributed to confinement effect in amorphous germanium aggregates was observed. Comparison of the luminescence in multilayer and GeOx thin film showed that in multilayer, although the control of the nanocrystals size isn't complete, the SiO2 barriers tend to enhance the intensity and reduce FWHM of the luminescence bands. This means that the confinement effect in the germanium aggregates in GeOx matrix is enhanced in multilayer system.

Upgrade to premium to download articles

Sign up to access the full text

Already have an account?login

similar resources

تأثیر اتمسفر فرآیند پخت روی خواص الکتریکی و نوری لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم

در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (ATZO) به روش سل‌ ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (XRD)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FE-SEM) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (EDX) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج XRD نشان داد که حضور اتمسفر احیا...

full text

مقایسه ساختار و مورفولوژی لایه‌های نازک Cu بر زیر لایه GaAsدر روش‌های الکتروانباشت و الکترولس

در این تحقیق لایه‌های نازک مس بر زیرلایه‌ی نیم‌رسانای گالیوم‌آرسناید نوع n به دو روش الکتروانباشت و الکترولس رشد داده شدند. لایه‌های الکتروانباشت شده با مد جریان ثابت از mA 5 تاmA30 و لایه‌های الکترولس شده در دماهای مختلف oC 25، oC77 تهیه شدند. ساختار و ریخت شناسی لایه‌ها به کمک دستگاه‌های XR...

full text

تأثیر اتمسفر فرآیند پخت روی خواص الکتریکی و نوری لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم

در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (atzo) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fe-sem) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (edx) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج xrd نشان داد که حضور اتمسفر احیای...

full text

تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار، هدایت الکتریکی و نفوذپذیری اکسیژن لایه های نازک Ba0/5Sr0/5Co0/8Fe0/2O3-δ ساخته شده با لایه نشانی لیزر پالسی

 In this paper, Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ (BSCF) thin films were deposited on single crystal SrTiO3 (STO) (100) by pulsed laser deposition (PLD) technique at different pressures of oxygen. Crystal structure of bulk and thin film samples was studied by x-ray diffraction (XRD). The XRD results indicate that both bulk and thin film samples have cubic structures. AFM micrographs showed an increase i...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


Journal title

volume 10  issue 4

pages  369- 369

publication date 2011-03

By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.

Keywords

No Keywords

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023