اندازه‌گیری میزان تأثیر تابش نوترون بر ثابت آسیب جریان معکوس α دیود

هنگامی‌که قطعات الکترونیکی در معرض تابش نوترون قرار می‌گیرند بر اثر اندرکنش‌های نوترون در این قطعات، مشخصات الکتریکی آنها مانند ظرفیت خازنی، جریان بایاس معکوس، طول عمر حامل اقلیت و غیره ... تغییر می‌کنند. این تغییرات بسیار مهم است تا آنجا که ممکن است عملکرد قطعه را مختل کرده و آن را از کار بیندازد. بنابراین اندازه‌گیری میزان آسیب ناشی از نوترون در این قطعات بسیار ضروری است. یکی از مهم‌ترین پارامترهایی که در بیان آسیب وارده به قطعات الکترونیکی به‌کار می‌رود، ثابت آسیب جریان معکوس αاست. این ثابت (α)، شیب نمودار جریان معکوس بر حسب شارش است که نشان‌دهندة تغییرات جریان معکوس بر حسب شارش است. هدف از انجام این کار اندازه‌گیری ثابت آسیب جریان معکوس αبرای دیودهای 1N4007، BYV27و BYV95در ولتاژها و دماهای مختلف است. این دیودها در راکتور تحقیقاتی تهران پرتودهی شدند و نتایج به‌دست آمده با روابط تئوری انطباق خوبی دارد.