Machine Learning (ML)-Based Model to Characterize the Line Edge Roughness (LER)-Induced Random Variation in FinFET

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

ذخیره در منابع من

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: IEEE Access

سال: 2020

ISSN: 2169-3536

DOI: 10.1109/access.2020.3020066