A Defect Inspection Method in TFT-LCD Panel Using LS-SVM

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

ذخیره در منابع من

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Journal of Korean Institute of Intelligent Systems

سال: 2009

ISSN: 1976-9172

DOI: 10.5391/jkiis.2009.19.6.852